1.晶体和晶振
通常,我们会将"晶体"（Crystal）和"晶振"（Oscillator）都叫成"晶振",其实这种叫法并不恰当。
无源晶体是有两个引脚的无极性元件,如图1（a）。正常工作时,需要借助外部电路产生振荡信号,自身并不需要单独外加电源。

图1晶体和晶振

有源晶振一般有四个引脚,如图1（b）,其内部集成石英晶体、晶体管、电阻电容等元件。晶振是一个完整的振荡器,只需要外加适当电源就能正常工作,无需其他外加电路。
2.成本分析
在设计时,工程师要尽可能的降低设计成本,从表1中看出这种晶体转晶振的电路可以使晶振的成本降低60%.

表1价格对比

3.晶体变晶振

采用晶体外加无缓冲反相器等元件组成晶振电路,原理及元件如图2.

图2无缓冲反相器和晶体组成的晶振电路

电路中电阻和电容的选择取决于反向器增益、频率稳定性、功耗、晶体特性和启动时间等,推荐参数如表2.

表2参数选择

U1：增加U1B主要是为了增大输出能力。无缓冲反相器的型号可以选择NXP、ON、TI等厂家的双反相器芯片。
RF：反向器的反馈电阻,它将反向器偏置在线性区域内。选择的RF值需要足够大,以便反向器的输入阻抗可以与晶体匹配。通常情况下,选择的值在1MΩ与10MΩ之间。
RS：将反向器的输出与晶体隔离开来,防止寄生高频振荡,以便获得良好的波形。通过选择大约等于容抗的值（RS≈XC2）可以获得可以接受的结果。
C1、C2：选择C1和C2的值时,要使C1和C2的并联值等于晶体数据表中指定的建议负载电容（CL）。另外,电容的选择还关系到晶振的启动时间、相移、谐振频率等。
4.参数测试
测试电路时,我们选用了三种不同频率的晶体（见表3）和三个厂家的无缓冲反相器进行组合测试,测试结果见表4.

表3晶体参数

表4多种电路的测试统计

频率：由晶振的调整频差（25℃±2℃）可以知道,晶体频率在其容忍频率范围内变动是允许的。表4中的测试频率均在允许范围内,并且变动范围较小。
占空比：数字系统对占空比要求并不严格,如果用在精确占空比的场合,用户需要对该参数进行筛选和测试。
启动时间：使用示波器的电平触发功能,测量从系统上电到输出稳定波形的时间。
高低温测试：根据晶体的工作温度,分别测试和记录了电路在85℃、70℃、50℃、25℃、0℃、-20℃、-40℃下的输出频率、占空比等参数,晶振均能顺利启振并参数正常。由于数据较多,篇幅有限,这里就不再列举。
5.结论
利用无源晶体的有源晶振不仅技术上可行,而且可以降低成本。

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